1. Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
پدیدآورنده : / Edited by Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey and cedric J. POwell
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)
موضوع : Surfaces(Technology)-- Analysis,Materials-- Effect of radiation on
رده :
620
.
44
B366
2. Beam effects, surface topography, and depht profiling in surface analysis
پدیدآورنده : edited by Avin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Surfaces )Technology( - Analysis , Materials - Effect of radiation on
رده :
TA
418
.
7
.
B43
1998
3. Chemistry and Physics of Solid Surfaces VI
پدیدآورنده : edited by Ralf Vanselow, Russell Howe.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Physical organic chemistry.,Surfaces (Physics)
4. Laser processing and chemistry
پدیدآورنده : Dieter Bäuerle.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Lasers -- Industrial applications.,Materials -- Effect of radiation on.,Surfaces (Technology) -- Effect of radiation on.
رده :
TA1677
.
D548
1996
5. Principles of sustainable energy systems /
پدیدآورنده : Charles F. Kutscher, Jana B. Milford, Frank Kreith.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Renewable energy sources.,BUSINESS & ECONOMICS / Real Estate / General.,Renewable energy sources.
رده :
TJ808
.
P75
2019
6. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV :
پدیدآورنده : Vitalii I Goldanskii
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع :
7. Solid-State Physics :
پدیدآورنده : by Harald Ibach, Hans Lüth.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Chemistry.,Electronics.,Physics.
8. Total-reflection X-ray fluorescence analysis and related methods
پدیدآورنده :
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Fluorescence spectroscopy.,X-ray spectroscopy.
رده :
QD96
.
X2
